精簡(jiǎn)薄膜厚度測(cè)量特性分析系統(tǒng)：FR-ES 機(jī)型設(shè)計(jì)在以較小的占地面積提供涂層表征性能。它廣泛應(yīng)用于各種不同的測(cè)量應(yīng)用：薄膜厚度、折射率、顏色、透射率、反射率等等。

產(chǎn)品型號(hào)：FR-ES

更新時(shí)間：2024-11-20

廠商性質(zhì)：代理商

訪問(wèn)量：393

服務(wù)熱線

4006981718

立即咨詢

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

實(shí)驗(yàn)室儀器

氣相色譜儀1

查看全部產(chǎn)品

相關(guān)文章

煙氣分析儀在水泥行業(yè)的應(yīng)用

高速攝像機(jī)安裝前期準(zhǔn)備工作重要的一環(huán)是什么呢

紅外光譜儀的工作原理

Versa頂空進(jìn)樣器的優(yōu)點(diǎn)

產(chǎn)品介紹

精簡(jiǎn)薄膜厚度測(cè)量特性分析系統(tǒng)

FR-ES: 精簡(jiǎn)薄膜厚度測(cè)量特性分析系統(tǒng)

精簡(jiǎn)薄膜厚度測(cè)量特性分析系統(tǒng)

FR-ES 機(jī)型設(shè)計(jì)在以較小的占地面積提供涂層表征性能。它廣泛應(yīng)用于各種不同的測(cè)量應(yīng)用：薄膜厚度、折射率、顏色、透射率、反射率等等。有下列波長(zhǎng)范圍 FR-ES 配置可用:

VIS/NIR (380-1020nm), UV/NIR (200-850nm), UV/NIR-EXT (200-1000nm), UV/NIR-HR (190-1100nm) NIR-N1 (850-1050nm),

NIR (900-1700nm).

D VIS/NIR (380-1700nm)

依照不同樣品形狀尺寸還有各種各樣的配件，例如

§ 濾光片可阻擋某些光譜范圍內(nèi)的光

§ FR-Mic 提供微米級(jí)別區(qū)域進(jìn)行測(cè)量

§ 手動(dòng)載物臺(tái), 100x100mm或 200x200mm

§ 薄膜/比色皿支架用于吸光度/透射率和化學(xué)濃度測(cè)量的薄膜/比色皿支架

§ 積分球用于漫反射和全反射反射率測(cè)量

FR-ES 規(guī)格(標(biāo)準(zhǔn)配置) *

精簡(jiǎn)薄膜厚度測(cè)量特性分析系統(tǒng)配件

精簡(jiǎn)薄膜厚度測(cè)量特性分析系統(tǒng)

聚焦模塊	安裝在反射探頭上的光學(xué)模塊，用于直徑 <100μm 的光斑尺寸
透射率模塊	用于透射率/吸光度測(cè)量的光學(xué)模塊
膜厚/比色皿套件	標(biāo)準(zhǔn)比色皿中的薄膜或液體進(jìn)行透射測(cè)量
接觸探頭	曲面樣品的反射率和厚度測(cè)量
顯微鏡	具有高橫向分辨率的基于顯微鏡的反射率和厚度測(cè)量
手動(dòng)X-Y平臺(tái)	手動(dòng) X-Y 平臺(tái)，用于測(cè)量 25x25mm /100x100mm / 200x200mm 區(qū)域

精簡(jiǎn)薄膜厚度測(cè)量特性分析系統(tǒng) * 規(guī)格如有變更，恕不另行通知； ** 厚度范圍取決于光譜范圍，是指硅基板上折射率約為 1.5 的單層薄膜 ** 與校準(zhǔn)的光譜橢偏儀和 XRD 進(jìn)行比較的測(cè)量結(jié)果，15 天內(nèi)平均值的標(biāo)準(zhǔn)偏差的平均值。樣品：Si 上 1μm SiO2，100 次厚度測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)偏差。樣品：Si 上 1μm SiO2，2*15 天內(nèi)日平均值的標(biāo)準(zhǔn)偏差。