產(chǎn)品中心
當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心暖通環(huán)保檢測儀Film Sense FS-1多波長橢偏儀
產(chǎn)品型號:Film Sense FS-1
更新時間:2024-11-20
廠商性質(zhì):代理商
訪問量:255
4006981718
產(chǎn)品分類
PRODUCT CLASSIFICATION相關(guān)文章
RELATED ARTICLESFilm Sense FS-1多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動 式部件橢偏探測器,可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實(shí)現(xiàn)可靠地薄膜測量。大多數(shù)厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要簡單的 1 秒測量,就可以獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。還可以測量大多數(shù)樣品的光學(xué)常數(shù)和其他薄膜特性。
Film Sense FS-1這款功能多波長橢偏儀,售價只是單一波長橢偏儀和光譜橢偏儀的中等水平。FS-1可應(yīng)用于研究實(shí)驗(yàn)室,超凈間,原位工藝腔體以及工業(yè)質(zhì)量控制等諸多領(lǐng)域。
4 個 LED 光源:藍(lán)色(465nm),綠色(525nm), 黃色(580nm),紅色(635nm)
橢偏儀探測器中無可移動部件
良好的膜厚精密性,大多數(shù)樣品精密度高于 0.001nm(1 秒獲取數(shù)據(jù)),對于亞單原子薄膜精密度等于0.001nm
集成計(jì)算機(jī),可實(shí)現(xiàn)對設(shè)備控制和數(shù)據(jù)分析,自帶瀏覽器界面,可兼容任何現(xiàn)代計(jì)算機(jī),筆記本或平板電腦
壽命長(長達(dá)50,000小時),更換 LED 燈便宜,校準(zhǔn)時間短或無需PM程序
快速測量(10ms 內(nèi)獲得多波長數(shù)據(jù))和長期性能穩(wěn)定
測量精確,橢偏儀可以實(shí)現(xiàn)
軟件設(shè)置和維護(hù)簡單
65°入射角
手動放置樣品和調(diào)節(jié)高度
樣品尺寸直徑200mm 和厚度23mm
樣品偏轉(zhuǎn)范圍+/-20
樣品上光束尺寸 5 x 12 mm
結(jié)構(gòu)緊湊(180 x 400 mm) 和輕巧(4.8 kg)
FS-1擅長測量膜厚范圍 0-1000nm 的透明單一薄膜的厚度和折射率。下表列出的是針對各種不同樣品,包括多層膜樣品,F(xiàn)S-1獲得的標(biāo)準(zhǔn)測量精密度和準(zhǔn)確性數(shù)據(jù)。
半導(dǎo)體行業(yè):二氧化硅和氮化物,高介電和低介電材料,非晶和多晶材料,硅薄膜,光刻膠
光學(xué)薄膜行業(yè):高和低指數(shù)薄膜,如 SiO2, TiO2, Ta2O5, MgF2 等
顯示屏行業(yè):TCO(如 ITO),非晶硅薄膜,有機(jī)薄 膜(OLED 技術(shù))
數(shù)據(jù)存儲行業(yè):寶石,如碳膜
工藝研發(fā):原位表征薄膜沉積(速率和光學(xué)常數(shù)) VS 工藝條件,可兼容 MBE, MOCVD, ALD 和磁控濺射等設(shè)備
化學(xué)和生物:在液體細(xì)胞實(shí)驗(yàn)中探測亞單原子層材料吸附
工業(yè):在線監(jiān)測和控制膜厚
亞單原子膜厚精密度
多工藝條件下測定薄膜光學(xué)常數(shù) n&k 和沉積速率,不會破壞真空
監(jiān)測和控制多層膜結(jié)構(gòu)沉積
FS-API 界面,外置軟件控制(兼容 LabVIEW )
兼容大多數(shù)薄膜沉積技術(shù):磁控濺射,ALD,MBE,MOCVD,電子束蒸發(fā)等
In Situ在線測量
產(chǎn)品包括 FS-1帶緊湊自動mapping樣品臺,可以實(shí)現(xiàn)快速,準(zhǔn)確和可靠的薄膜均勻性測量。
4 段波長的橢偏數(shù)據(jù)(465, 525, 580, 635 nm),壽命長的LED光源,探測器內(nèi)無可移動部件
可對 0-1000nm 透明薄膜進(jìn)行準(zhǔn)確的厚度測量
標(biāo)準(zhǔn)濃厚重復(fù)性 0.015 nm
集成聚焦探針,標(biāo)準(zhǔn)光斑尺寸 0.8 x 1.9 mm (其他尺寸 可選)
電動 Z 軸樣品臺自動準(zhǔn)直
靈活掃描圖案編輯器
測量參數(shù)等值線繪制
樣品上光束尺寸減小到 0.8 x 1.9 mm 或 0.3 x 0.7 mm
聚焦光束檢測系統(tǒng)包括一個 FS-1 帶光束聚焦光學(xué)器件和一個手動位移臺。該系統(tǒng)非常適合用于手動檢測和在圖案化半導(dǎo)體晶圓上進(jìn)行質(zhì)量控制測量。
可進(jìn)行科研測量,帶小尺寸光斑和相機(jī)成像功能
手動位移臺,可容納 4’,5’,6’晶圓
樣品上光束尺寸 0.3 x 0.7 mm
樣品上光束位置視頻圖像
標(biāo)準(zhǔn)晶圓 map 時間:60s(150mm 晶圓上取 49 個點(diǎn))
結(jié)構(gòu)緊湊:600x600 mm, 16 kg
樣品臺行程(X,Y):150 x 150 mm, 精度:5 μm
標(biāo)準(zhǔn)晶圓 map 時間:90s(300mm 晶圓上取 49 個點(diǎn))
結(jié)構(gòu)緊湊:400x500 mm, 22 kg
樣品臺行程:R (線性) :150 mm, 精度:12 μm
角度(旋轉(zhuǎn))360°,精度:0.1°
關(guān)于我們
公司簡介 企業(yè)文化 榮譽(yù)資質(zhì)產(chǎn)品分類
漏風(fēng)量儀 定制風(fēng)洞 風(fēng)壓風(fēng)速風(fēng)量儀(管道型)新聞文章
新聞中心 技術(shù)文章聯(lián)系我們
聯(lián)系方式 在線留言 地圖導(dǎo)航4006981718
(全國服務(wù)熱線)北京市大興區(qū)金苑路32號709
312878821@gq.com
掃碼加微信
Copyright © 2024北京圣達(dá)駿業(yè)科技有限公司 All Rights Reserved 工信部備案號:京ICP備09048657號-16
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml